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MicronX型荧光测厚仪是一种专门应用于半导体材料和电子器件领域的检测设备。
检测区域为50m~500um. 通过CCD 可放大图像达300倍。通过高精密度样品台可提供元素面分布图。
可对多达7层的涂层或镀层进行逐层厚度测量。
X荧光测厚仪MicronX的工作原理介绍
X荧光测厚仪MicronX的使用方法?
MicronX多少钱一台?
X荧光测厚仪MicronX可以检测什么？
X荧光测厚仪MicronX使用的注意事项？
MicronX的说明书有吗？
X荧光测厚仪MicronX的操作规程有吗？
X荧光测厚仪MicronX报价含票含运吗？
MicronX有现货吗？
企业名称
赛默飞世尔科技(中国)有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司(港澳台法人独资)
信用代码
91310115753164501J
成立日期
2003-08-11
注册资本
美元800.0000万
经营范围
见附件营业执照
赛默飞世尔科技（中国）有限公司集团展位
公司地址
上海市浦东新区新金桥路27号7号楼
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