Agilent 8900 ICP-MS/MS

ICP-MS 作为一种金属元素分析仪器应用于半导体产业链，始于 20 世纪 80 年代。随着半导体制程的不断迭代，整个行业对 ICP-MS 的性能提出了越来越高的要求。过去 30 年来，位于日本东京的安捷伦 ICP-MS 全球研发中心与半导体产业链端客户密切合作，引领着 ICP-MS 在全球半导体产业链中的应用不断创新。

使用 Agilent 8900 ICP-MS/MS，在多元素 spICP-MS 模式下，对 1% TMAH 中的多元素纳米颗粒进行了测定和表征。对于半导体级化学品中的多元素 NP 分析，MS/MS 方法可实现低背景、高灵敏度和干扰控制。使用专门开发的快速多元素纳米颗粒分析软件，在一次样品采集中获得 Ag、Al2O3、Fe3O4、Au 和 SiO2 NP 的多元素数据并组合到一个结果表中。该表格提供关于含各种实测元素的纳米颗粒的全面信息。结果表明，在溶液中含有大颗粒（如200 nm SiO2 NP）的情况下仍可测量小颗粒（如 30 nm Fe3O4NP）。1% TMAH 溶液中的 Al2O3和 SiO2 NP 的粒径和颗粒浓度在 10 小时内稳定不变，而 Fe3O4和 Ag NP 的颗粒浓度随时间逐渐减小。这一结果表明，TMAH 溶液中的 Fe3O4和 Ag NP 应在配制好后尽快测量。1% TMAH 中 Fe3O4 NP 的粒径稳定不变，而 NP 浓度随时间的变化还需要进一步的研究。本研究表明，利用 spICP-MS 能够快速准确地测定含有由不同和/或多种元素组成的纳米颗粒的样品。与针对每种 NP 分别采集数据相比，快速多元素纳米颗粒分析软件简化了分析方法并将样品运行时间缩短了 7 分钟。测量的元素越多，节省的时间也就越多。

采用 Agilent 8800 ICP-MS/MS 确认了水簇离子H3O(H2O)+的存在，其在冷等离子体条件下会在m/z 39 处产生 K 的背景信号。在 MS/MS 模式下，采用 NH3作为反应池气体可成功除去该水簇离子。采用 8800 ICP-MS/MS 获得的39K 的 BEC 为使用常规四极杆 ICP-MS 获得值的 1/10。这一结果展示了 MS/MS 反应模式的优势，其能阻止所有非目标离子、等离子体衍生离子进入反应池，从而避免在反应池中产生可能造成干扰的产物离子。因此，Agilent 8800 ICP-MS/MS 能够使 UPW 中 K 的 BEC 低至 30 ppq，所有其他元素（包括Ca、Fe 和 Ni）的 BEC < 150 ppq。

Agilent 8800 ICP-MS/MS（采用 MS/MS 模式）可以准确、高效地测定不同浓度（30 ppm 和 2000 ppm）高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL 都非常低，MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下，仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限，对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时，表明仪器具有出色的信号稳定性。

S、P、Si 和 Cl 对四级杆 ICP-MS 分析都是极具挑战性的元素，而对 NMP 这样的有机基质，这些元素的检测会更加困难。使用 Agilent 8800 电感耦合等离子体串联质谱仪，在其独特的 MS/MS 模式下采用质量转移方法，对所有分析物都获得了很低的 BEC，充分展示了 ICP-MS/MS 在应对 ICP-MS 领域最具挑战的应用中表现出的灵活性和优越的性能。

在本研究中，利用配备 ESI prepFAST S 自动化样品引入系统的 Agilent 8900 ICP-MS/MS 开发出一种对去离子 (DI) 水和 H2O2 中的超痕量元素杂质进行定量分析的自动化程序。prepFAST S 自动完成样品前处理和校准，可节省时间并最大程度减小手动样品处理操作引起样品污染的风险。

采用 Agilent 8800 ICP-MS/MS 的化学分离为消除棘手的干扰问题提供了巨大潜力，无需进行繁琐的样品前处理。此外，还开辟了使用高分辨率扇形磁场 ICP-MS 无法解决的应用领域。在无法进行样品前处理的情况下（例如通过激光剥蚀 ICP-MS 进行直接分析），化学分离与 MS/MS 技术联用能够可靠地去除干扰，且无需复杂且通常不可靠的数学校正。

本应用介绍了一种使用串联四极杆 ICP-MS (ICP-MS/MS)测量高纯度铜中超痕量杂质的新方法。针对 Agilent 8900ICP-MS/MS 开发出一种可选的离子透镜（称为“m 透镜”），从而能够在耐受基质的高功率等离子体条件下对超低浓度的碱金属进行测量。m 透镜具有优化的几何结构，可最大程度减小沉积在 ICP-MS 接口组件上的 EIE 背景信号。

纳米 SiO2 材料的应用范围的不断扩展引发了对其环境和健康危害性的关注，这种需求促生了用于 SiO2 纳米材料直接测定和表征的新方法的开发，虽然 SP-ICP-MS 技术已经确认是可用于纳米颗粒物浓度和粒径的直接表征方法，但是由于 Si 元素在质谱测定中会面临的强质谱重叠干扰，传统单级质谱存在定量难度，本文利用 Agilent 8800 ICP-MS/MS 串联质谱的强干扰消除能力，实现了 Si 元素的无干扰测定，从而完成了使用 SP-ICP-MS/MS 对 SiO2 纳米材料的直接表征。

Agilent 8800 ICP-MS/MS 能够在单次色谱分析中使用多种调谐条件，从而可对每种分析物采用最佳采集设置。这使得 GC-ICP-MS/MS 在测定羰基镍和羰基铁时可实现出色的检测限，羰基镍和羰基铁是一氧化碳中最难分析的两种典型污染物。获得的检测限为 70–80 ppt，与 GC-ECD 检测相当，并且远低于各行业目前所要求的检测限。此外，ICP-MS/MS 的多元素分析能力可确保其他金属羰基化合物也可采用此方法实现成功测量，包括Co2(CO)8、Cr(CO)6、Mo(CO)6 和 Fe2(CO)9。 通过标准 ICP 雾化室的第二进样口将气相色谱连接至 ICP-MS/MS，以便能够同时吸取标准溶液。由于羰基化合物通常缺少气体标样，因此此方法对于羰基物化合物的定量测定至关重要。同时吸取标准溶液还可提供充足的氧气，防止一氧化碳在炬管或锥上形成碳积聚，从而无需再额外添加氧气。

Agilent 8800 ICP-MS/MS 具有极低的背景和更高的灵敏度，因此 GC-ICP-MS/MS 方法在测定高纯气体中的各种污染物时具有明显的优势，能够实现行业所要求的低检测限。与采用传统四极杆 ICP-MS的 GC-ICP-MS 相比，GC-ICP-MS/MS 对硅烷、磷化氢、硫化氢和羰基硫的检测限低 5–10 倍，其中硅烷的检测限为 200 ppt 左右，而磷化氢检测限为15 ppt 左右。

有机溶剂中痕量元素的分析对 ICP-MS 来说存在着一些挑战，其中许多难题借助安捷伦的 7700 系列四极杆 ICP-MS 系统的先进技术如 Peltier 冷却雾室，快速变频阻抗匹配固态 RF 发生器以及八极杆碰撞反应池 (ORS3) 已得到了不同程度的解决。然而，即便有了这些先进技术，有机溶剂中某些元素的分析仍然十分困难，尤其是硅、磷和硫。这三个元素都会受到来自碳、氮和氧的多原子离子的严重干扰，而这些干扰是常规 ICP-MS 很难完全消除的。比如 CO、COH、N2和 NO 对 Si 28、29 和 30 的干扰，COH、NOH、N2H、NO 和 CO 对 P 31 的干扰，以及 O2、NO、NOH 和 NOH2 对 S 32 和 34 的干扰。此外，磷和硫的第一电离能 (IP) 很高，分别为 10.5 eV 和 10.4 eV，因此灵敏度比其它一般元素要差（一般元素的 IP 大约为 6-8 eV）。

有机溶剂中痕量元素的分析对 ICP-MS 来说存在着一些挑战，其中许多难题借助安捷伦的 7700 系列四极杆 ICP-MS 系统的先进技术如 Peltier 冷却雾室，快速变频阻抗匹配固态 RF 发生器以及八极杆碰撞反应池 (ORS3) 已得到了不同程度的解决。然而，即便有了这些先进技术，有机溶剂中某些元素的分析仍然十分困难，尤其是硅、磷和硫。这三个元素都会受到来自碳、氮和氧的多原子离子的严重干扰，而这些干扰是常规 ICP-MS 很难完全消除的。比如 CO、COH、N2和 NO 对 Si 28、29 和 30 的干扰，COH、NOH、N2H、NO 和 CO 对 P 31 的干扰，以及 O2、NO、NOH 和 NOH2 对 S 32 和 34 的干扰。此外，磷和硫的第一电离能 (IP) 很高，分别为 10.5 eV 和 10.4 eV，因此灵敏度比其它一般元素要差（一般元素的 IP 大约为 6-8 eV）。

有机溶剂中痕量元素的分析对 ICP-MS 来说存在着一些挑战，其中许多难题借助安捷伦的 7700 系列四极杆 ICP-MS 系统的先进技术如 Peltier 冷却雾室，快速变频阻抗匹配固态 RF 发生器以及八极杆碰撞反应池 (ORS3) 已得到了不同程度的解决。然而，即便有了这些先进技术，有机溶剂中某些元素的分析仍然十分困难，尤其是硅、磷和硫。这三个元素都会受到来自碳、氮和氧的多原子离子的严重干扰，而这些干扰是常规 ICP-MS 很难完全消除的。比如 CO、COH、N2和 NO 对 Si 28、29 和 30 的干扰，COH、NOH、N2H、NO 和 CO 对 P 31 的干扰，以及 O2、NO、NOH 和 NOH2 对 S 32 和 34 的干扰。此外，磷和硫的第一电离能 (IP) 很高，分别为 10.5 eV 和 10.4 eV，因此灵敏度比其它一般元素要差（一般元素的 IP 大约为 6-8 eV）。

根据欧盟委员会 (EC) 建议 (2011/696/EU)，出于监管的目的，纳米材料是“含有呈未结合态、聚集体或聚结物颗粒的天然材料、人为偶发 材料或制造材料，其中 50% 以上颗粒的粒径分布数量中，三维尺寸 至少有一维介于 1 nm-100 nm 之间”。具有纳米级外形尺寸或内部 结构的材料表现出材料宏观尺度形态中不存在的独特性质。Agilent 8900 串联四极杆 ICP-MS (ICP-MS/MS) 具有低背景 (< 0.2 cps) 和高达 Gcps/ppm 的灵敏度，非常适合小颗粒检测。此外，8900 系统能够以极短的 (0.1 ms) 驻留时间运行，支持非常快速的时间分辨分析 (TRA) 采集，从而可提高信噪比。

纳米材料正越来越多地用于工业过程、制成品、药品以及化妆品、防晒霜和食品等消费品领域。由于纳米颗粒 (NP) 的环境行为以及被人体吸收后可能产生的毒性作用尚不明确，因此对 NP 的测量是人们关注的重点。 ICP-MS 是一种测量材料元素含量的成熟技术；近期发展起来的单颗粒采集模式 (spICP-MS) 目前可提供一种表征样品中 NP 含量的强大方法。采用 spICP-MS 记录所分析溶液中单个 NP 产生的目标元素信号，从而对所含颗粒的数量、浓度和粒径，以及溶解元素浓度实现同步测量。多位研究人员已对这种方法进行了开发，如今现代 ICP-MS 仪器也能够提供支持 NP 表征的自动采集与校准方 法。当前 ICP-MS 系统具有较短的驻留时间，分析单一同位素时测量间无需稳定时间即可连续采集数据。在驻留期间总背景计数成比例下降时，来自颗粒羽流的信号并不会降低，因此这一系统可检测更小的颗粒。然而，如果驻留时间比羽流持续时间（通常在 0.5 ms 左右）短，分析物的信号也会随驻留时间的缩短而降低。这就增加了计数统计的误差。使用最高灵敏度（信噪比）和合适的驻留时间对维持计数率的统计有效性至关重要。

本文使用反应气 N2O，开发出可快速准确稳定测定环境中 ppt级别的 135Cs 和 135Cs /137Cs 同位素比的 ICP-MS/MS 方法，其检出限可以达到 0.01ppt 以下，并将此方法成功应用于核岛第一核电站事故相关的土壤、垃圾和苔藓样品中 135Cs 和 137Cs的准确测试。 安捷伦新一代 ICP-MS/MS 平台可以轻松控制所有反应，获得十分精准的同位素测试结果，通过极高的化学分辨能力以及丰度灵敏度，获得极为准确的 Cs 同位素精度比，为核辐射工作者提供了一种更简单高效的研究核污染物鉴别的新示踪物和新测试方法。

本文使用 ESI seaFAST-pico 样品预浓缩系统对海水样品进行柱分离和柱洗脱处理后，借助 Agilent 8800 ICP-MS/MS 串联质谱的两级精准质量筛选和多种反应池气体组合优化的功能，实现了海水中 Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Cd, Pb 多种元素的超低含量测定，整体方法的检出能力适用于公海海域海水样品中常规元素的痕量检测需求。

"在过去的二十年里，元素形态分析方法的发展在很大程度上受检测系统 ICP-MS 的联用技术推动。作为 ICP-MS 联用技术的领先开发者和践行者，安捷伦在 ICP-MS 联用领域深耕二十年，基于 ICP-MS 与 LC, GC, CE，以及LA等联用技术，在不同行业开发出大量解决方案，并积累了海量应用文献。此外，安捷伦独特的串接产品 ICP-MS/MS，更将联用技术的检测性能提到了一个新的高度，满足了某些存在特殊干扰或有更高灵敏度要求的特定元素分析的需求。 在有机物检测领域，安捷伦 ICP-MS 产品联用技术的应用范围不断被刷新和扩展。例如：利用GC-ICP-MS/MS 联用技术对痕量有机磷和有机硫农药进行高灵敏度以及高选择性的检测，HPLCICP-MS 联用技术与有机质谱配合研究富硒蛋白鉴定等生物研究领域的应用。"

硒在环境和农业研究以及人体健康中都是一种重要的元素，因为它是一种基本的营养微量元素，但过量以后也具有毒性。硒的某些化学形式的作用也是防癌研究的重要课题。ICP-MS 是硒总量和硒形态测量首选的分析方法，但是 ICP-MS 准确定量痕量级硒也有一定难度，原因如下： • 硒的第一电离能高 (IP = 9.75 eV)，这意味着它在等离子体中电离度差，因而其信号强度低 • 由于硒电离不充分，在高基质样品中会受到信号抑制，再加上缺少具有相似质量和电离能的内标元素使问题更加复杂 • 在实际样品分析中，所有对分析有用的硒同位素都存在多种质谱干扰（详见表 1） • 分离所有质谱干扰物所需要的分辨率超出扇形高分辨 ICP-MS 的能力

硒在环境和农业研究以及人体健康中都是一种重要的元素，因为它是一种基本的营养微量元素，但过量以后也具有毒性。硒的某些化学形式的作用也是防癌研究的重要课题。ICP-MS 是硒总量和硒形态测量首选的分析方法，但是 ICP-MS 准确定量痕量级硒也有一定难度，原因如下： • 硒的第一电离能高 (IP = 9.75 eV)，这意味着它在等离子体中电离度差，因而其信号强度低 • 由于硒电离不充分，在高基质样品中会受到信号抑制，再加上缺少具有相似质量和电离能的内标元素使问题更加复杂 • 在实际样品分析中，所有对分析有用的硒同位素都存在多种质谱干扰（详见表 1） • 分离所有质谱干扰物所需要的分辨率超出扇形高分辨 ICP-MS 的能力

硒在环境和农业研究以及人体健康中都是一种重要的元素，因为它是一种基本的营养微量元素，但过量以后也具有毒性。硒的某些化学形式的作用也是防癌研究的重要课题。ICP-MS 是硒总量和硒形态测量首选的分析方法，但是 ICP-MS 准确定量痕量级硒也有一定难度，原因如下： • 硒的第一电离能高 (IP = 9.75 eV)，这意味着它在等离子体中电离度差，因而其信号强度低 • 由于硒电离不充分，在高基质样品中会受到信号抑制，再加上缺少具有相似质量和电离能的内标元素使问题更加复杂 • 在实际样品分析中，所有对分析有用的硒同位素都存在多种质谱干扰（详见表 1） • 分离所有质谱干扰物所需要的分辨率超出扇形高分辨 ICP-MS 的能力

Agilent ICP-MS 在注射剂样品的元素杂质分析中具有突出特点：配备高基质进样系统，有效应对高盐样品分析；采用第四代氦气碰撞反应池技术，高效彻底地消除干扰，操作简便；功能齐全的合规软件设计；采用变频式射频发生器设计。

本文介绍了一种快速检测牛奶中 β-内酰胺类抗生素残留的检测方法。该方法采用 Agilent Captiva EMR-Lipid 去除牛奶中的磷脂等杂质，并结合高灵敏度 Agilent 6495 三重四极杆液质联用系统 (LC/QQQ)，对牛奶中的阿莫西林、氨苄西林、氯唑西林、双氯西林、苯唑西林、萘夫西林，阿洛西林、美替西林、哌拉西林、青霉素素 G、青霉素 V、苯氧乙基青霉素、氟氯西林、头孢哌酮、头孢氨苄、头孢噻呋和头孢喹肟的残留量进行分析。

本文开发了一种高效液相色谱与电感耦合等离子体串联质谱仪（HPLC-ICP-MS/MS）联用方法，用于准确地测定食用菌中六种砷形态。ICP-MS/MS 使用氧气反应模式进行砷定量。结果表明，大多数野生食用菌为有机砷，主要是砷甜菜碱和砷胆碱。

在 ICP-MS 检测中，Cd 的多个同位素都会被 MoO 干扰，即使高分辨 HR-ICP-MS 也无法有效解决，需要加入化学沉淀或固相萃取等前处理步骤，十分繁琐。使用 ICP-MS/MS 的氧气模式可同时准确测定 Cd 与 Mo，Mo 元素使用 MoO2+ 测定，Cd元素与 O2 不反应，使用 Cd+ 测定。ICP-MS/MS 的池前四极杆 Q1 可以彻底滤除 Mo，使 Mo 无法与 O2 相遇，没有 MoO 干扰的问题

将 Agilent 1260 Infinity II 液相色谱系统与 Agilent 8900 ICP-MS/MS 联用，首次测定了婴儿配方奶样品中的 4 种卤素形态。使用阴离子交换色谱柱可在约 6.5 分钟内实现基线分离，I−、IO3−、Br− 和 BrO3− 的检测限均小于等于 0.67 ppb。婴儿配方奶的形态分析提供了关于碘生物有效性和溴酸盐潜在风险的有用信息。此外，还采用 8900 ICP-MS/MS 进行了碘和溴的总元素测定。婴儿配方奶 SRM 中碘的实测值与标准值非常一致，回收率为 103%。127I− 的实测浓度标准值之间也具有很好的一致性，回收率为 101%。溴 SRM 未提供标准值。 本研究中分析的四种市售婴儿配方奶样品中未检出碘酸盐或溴酸盐，仅含有碘化物和溴化物。样品中的总碘含量范围为25.9–54.5 µg/100 kcal。该范围符合美国和中国婴儿配方奶中的碘标准，但超出了 29 µg/100 kcal 的欧盟最高限量。为测试该方法对准确测定婴儿配方奶样品中四种低浓度形态的适用性，在 20 和 40 ppb 下进行了加标回收率测试。结果实现了基线分离，在多次 100 µL 进样过程中表现出良好的重现性。

本解决方案介绍了一种简单、稳定且快速的 HPLC-ICP-MS/MS方法，该方法可在两分钟内完成对毒性最高的无机 As形态（As(III) 和 As(V)）的总浓度以及两种有机 As 形态的测量。在样品前处理期间，用 H2O2 将 As (III) 氧化成 As (V)，能够以 As (V) 形式测定总 iAs，从而更快速地分离葡萄酒样品中的目标组分。窄径色谱柱和0.5 mL/min 流速提供了出色的灵敏度，从而能够使用更低的进样量。与目前用于测定葡萄酒中砷的 FDA 方法相比，本方法的样品运行时间加快了 10 倍，并改善了检测限和定量限。

食品样品具有基质组成复杂、元素浓度范围宽等特点，给此类样品的元素分析带来极大挑战。利用传统 ICP-MS 进行分析时，往往存在结果准确度和分析效率不佳的情况。安捷伦ICP-MS 凭借众多成熟先进的专利技术，能够有效帮助用户解决这些可能面临的困难。

本文使用三种样品制备技术（敞口酸消解、微波消解和碱熔）定量矿物中稀土元素，同时还对比了 ICP-MS/MS 与其他仪器（MIP-AES，ICP-AES 和 ICP-MS）的分析性能。研究表明，ICP-MS/MS 法测得的稀土元素浓度与标准物质参考值非常吻合，比其他分析方法更适合于稀土元素的定量分析，对稀土同位素测定具有更强的干扰消除能力和更低的检测限 2。ICP-MS/MS 方法检出限远低于其他分析仪器，非常适合矿物中痕量稀土元素的测定，这得益于 ICP-MS/MS 超高的灵敏度。

Agilent 8800 电感耦合等离子体串联质谱仪（也称为 ICP-MS/MS）因其独特的 MS/MS 反应模式而能提供卓越的反应池性能。第一个主四极杆 (Q1) 位于八极杆反应池系统 (ORS3) 的前面，作为 1 amu 质量过滤器严格控制进入反应池的离子。只有具有目标分析物质量数的离子才能进入反应池；而所有其他质量数则被排除。由于等离子体和基质中的干扰离子被 Q1 消除，池内的反应过程大为简化而且更容易预测，使得 Agilent 8800 ICP-MS/MS 可以广泛应用于解决棘手的干扰问题。本应用简报将介绍消除 MH+ 对稀土元素 (REE) 的干扰。

硒在环境和农业研究以及人体健康中都是一种重要的元素，因为它是一种基本的营养微量元素，但过量以后也具有毒性。硒的某些化学形式的作用也是防癌研究的重要课题。ICP-MS 是硒总量和硒形态测量首选的分析方法，但是 ICP-MS 准确定量痕量级硒也有一定难度，原因如下： • 硒的第一电离能高 (IP = 9.75 eV)，这意味着它在等离子体中电离度差，因而其信号强度低 • 由于硒电离不充分，在高基质样品中会受到信号抑制，再加上缺少具有相似质量和电离能的内标元素使问题更加复杂 • 在实际样品分析中，所有对分析有用的硒同位素都存在多种质谱干扰（详见表 1） • 分离所有质谱干扰物所需要的分辨率超出扇形高分辨 ICP-MS 的能力

使用 Agilent 8900 半导体配置 ICP-MS/MS，成功测定了半导体级 H2SO4 中超痕量水平下的 42 种元素。1/10 稀释的 H2SO4 中，20 ppt 水平（Si 为 2 ppb）下的所有元素均获得了优异的加标回收率，证明8900 ICP-MS/MS 方法适用于高纯度工艺化学品的常规分析。使用 ICP-MS/MS 在 MS/MS 模式下采用适当反应池气体条件，避免了质谱干扰问题的出现，这些干扰会阻碍 ICP-QMS 对某些关键元素的测量。8900 ICP-MS/MS 的轴向加速功能明显提高了测定 Ti、Zn 和 P 等原子所需的子离子灵敏度。9.8% H2SO4中的几乎所有分析物均获得了亚 ppt 级 DL 和 BEC。

Agilent 8800 ICP-MS/MS（采用 MS/MS 模式）可以准确、高效地测定不同浓度（30 ppm 和 2000 ppm）高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低，MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下，仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限，对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时，表明仪器具有出色的信号稳定性。

Agilent 8800 ICP-MS/MS（采用 MS/MS 模式）可以准确、高效地测定不同浓度（30 ppm 和 2000 ppm）高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低，MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下，仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限，对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时，表明仪器具有出色的信号稳定性。

Agilent 8800 ICP-MS/MS（采用 MS/MS 模式）可以准确、高效地测定不同浓度（30 ppm 和 2000 ppm）高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低，MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下，仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限，对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时，表明仪器具有出色的信号稳定性。

Agilent 8800 ICP-MS/MS（采用 MS/MS 模式）可以准确、高效地测定不同浓度（30 ppm 和 2000 ppm）高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低，MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下，仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限，对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时，表明仪器具有出色的信号稳定性。

Agilent 8800 ICP-MS/MS（采用 MS/MS 模式）可以准确、高效地测定不同浓度（30 ppm 和 2000 ppm）高纯硅基质中的 P、Ti 和其他痕量元素。所有元素的 BEC 和 DL都非常低，MS/MS 模式可以确保将目标产物离子与其他分析物生成的潜在干扰产物离子分离。这是 8800 ICP-MS/MS 的 MS/MS 模式所独有的功能。即使在使用超低流量雾化器的条件下，仍然可以获得优异的灵敏度和超低的检测限，对于 2000 ppm Si 基质样品可连续测定超过 3 小时，表明仪器具有出色的信号稳定性。

安捷伦新一代 ICP-MS/MS 平台可以轻松准确测试单细胞中的痕量金属元素以及 P、S 元素含量。由于其高灵敏度和彻底消除一切干扰的特点，可以挑选 P 和 S 等 ICP-MS 难测定元素（也是生物学研究中的重要表征元素）来精准测试传输效率，用于单细胞中低含量或者困难元素的准确测定，为细胞生物利用性等前沿科研提供一种全新的技术手段。

本文使用特殊反应气 CH3F，开发出了比单杆质谱（ICP-MS）和高分辨质谱（HR-ICP-MS）更优越的ICP-MS/MS 串接质谱方法，可用于高效准确测试血液、尿液等生物流体样本中的超痕量医学相关元素（Al、Co、Cr、Mn、Ni、Ti、V 等）。除了常用的氦气、氢气、氧气和氨气外，安捷伦新一代 ICP-MS/MS 平台可以轻松使用 Xe、CH3F、C2H2、C2H6、C3H4、C3H8、CH4、CF4、NO、N2O、CO、CO2、N2 等几十种特殊的碰撞反应气体，实现更丰富更有深度的各种测试和科研等需求。与 HR-ICP-MS 相比，具备更高的信噪比、优越的化学高分辨能力，以及更低的购置和使用成本、更低的操作人员要求等优点。