日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪

仪器简介：

是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。是一个本公司膜厚仪FT系列的标准机型。有适用线路板用的FT9250、有适用大型线路板用的FT9255、可以对应广泛的应用程序。

技术参数：

可测量元素：原子序数22(Ti)～92(U)
X射线源：小型空气冷却型X射线管球 管电压：45kV 管电流：1mA Be窗
滤波器：一次滤波器：Al-自动切换  二次滤波器：Co-自动切换
检测器：比例计数管
准直器：方型：0.2×0.05mm 0.05×0.02mm 
              圆形：Φ0.1mm Φ0.2mm Φ0.3mm

安全性能：装有样品门联锁、防冲撞的功能

样品图像对焦方式：激光自动对焦

样品观察：CCD固定倍率、卤素灯照明 选购项：倍率切换（最大130倍） 
修正功能：底材修正、已知样品修正、人工输入修正
测量报告书制作：配备MS-EXCEL® MS-WORD®(使用宏支持自动制作测量报告书) 测量能谱与样品图像保存功能

主要特点：

1. 能够测量无铅焊锡
    配备了薄膜FP法，可以同时测量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，无铅焊锡的镀层后与成份

2. 搭载中心搜索软件
    通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置。

3. 拥有防冲功能

4. 搭载激光对焦系统

5. 即时生成测量报告的便捷性
    运用搭载的Microsoft Word® Excel® 可以简单轻松得到制作报告。

 
6. 拥有自动测量软件以及中心搜索软件

7. 搭载了薄膜FP法软件

8. 自动对焦功能 
    配备激光自动对焦功能，能够准确对焦，提高测量效率。