日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪
日立 FT9200系列 X射线荧光镀层厚度测量仪

¥50万 - 100万

6.5

日立

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FT9200系列

--

亚洲

核心参数

产地类别: 进口

仪器简介:

是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。是一个本公司膜厚仪FT系列的标准机型。有适用线路板用的FT9250、有适用大型线路板用的FT9255、可以对应广泛的应用程序。



技术参数:

可测量元素:原子序数22(Ti)~92(U)
X射线源:小型空气冷却型X射线管球 管电压:45kV 管电流:1mA Be窗
滤波器:一次滤波器:Al-自动切换  二次滤波器:Co-自动切换
检测器:比例计数管
准直器:方型:0.2×0.05mm 0.05×0.02mm 
              圆形:Φ0.1mm Φ0.2mm Φ0.3mm

安全性能:装有样品门联锁、防冲撞的功能

样品图像对焦方式:激光自动对焦

样品观察:CCD固定倍率、卤素灯照明 选购项:倍率切换(最大130倍) 
修正功能:底材修正、已知样品修正、人工输入修正
测量报告书制作:配备MS-EXCEL® MS-WORD®(使用宏支持自动制作测量报告书) 测量能谱与样品图像保存功能



主要特点:

1. 能够测量无铅焊锡
    配备了薄膜FP法,可以同时测量Sn-Ag,Sn-Bi,Sn-Cu等,无铅焊锡的镀层后与成份


2. 搭载中心搜索软件
    通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置。


3. 拥有防冲功能


4. 搭载激光对焦系统


5. 即时生成测量报告的便捷性
    运用搭载的Microsoft Word® Excel® 可以简单轻松得到制作报告。

 
6. 拥有自动测量软件以及中心搜索软件


7. 搭载了薄膜FP法软件


8. 自动对焦功能 

    配备激光自动对焦功能,能够准确对焦,提高测量效率。

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