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仪器介绍
自从 1994 年推出世界第一台 ICP-MS,安捷伦公司对 ICP-MS 进行了重要的革新,使Agilent 7500 系列成为分析痕量金属最佳的 ICP-MS 仪器。7500 系列具有极高的分析性能与极宽的适用范围,它能实现最难测定的样品基体的分析,同样也能满足最苛刻的超痕量分析应用。它还具有最高的自动化程度,最低的日常维护需求,是现有的 ICP-MS 中生产效率最高的产品。
技术参数
主要特点
·进样系统和接口锥采用特殊设计,耐受各种领域的复杂基体样品
·等离子体的高温提供低氧化物干扰,能耐受有机样品
·卓越的超高灵敏度
·独特的高速双通道模式检测器,工作曲线线性动态范围可达9个数量级
·新颖的离轴离子光学设计,即使面对复杂基体样品仍能提供卓越的灵敏度和低至ppt级的分析能力
·独特的八极杆碰撞池,可用于复杂基体样品及半导体样品的分析
·等离子体的高温提供低氧化物干扰,能耐受有机样品
·卓越的超高灵敏度
·独特的高速双通道模式检测器,工作曲线线性动态范围可达9个数量级
·新颖的离轴离子光学设计,即使面对复杂基体样品仍能提供卓越的灵敏度和低至ppt级的分析能力
·独特的八极杆碰撞池,可用于复杂基体样品及半导体样品的分析
分析方法
此仪器尚未上传分析方法
相关资料
此仪器尚未上传资料
应用领域
此仪器尚未选择应用领域
所属专场
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