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赛默飞世尔科技元素分析(Elemental)

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  • 厂商性质:生产商
  • 产品总数量:27
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Nexsa™ X 射线光电子能谱仪 核心参数 索要更多参数

  • 仪器种类
    进口产品

优秀新品获奖理由:

新推出的Nexsa系统首次实现了K-Alpha+全自动、高样品通量设计与ESCALAB Xi+多技术集成功能的高效结合。Nexsa客户可根据实际科研或测试需求,搭配具有不同特色的XPS表面分析平台,如:紫外光电子能谱(UPS)、拉曼光谱(Raman)、离子散射普(ISS)、反射式电子能量损失谱(REELS)等,无需移动或转移样品,可在样品同一位点进行原位分析,实现真正意义上的多技术联合分析。同时,还可搭配Ar气体团簇复合离子源,样品倾斜、偏压模块,以及快速平行成像(SnapMap)功能。 利用新款Nexsa系统,可实现以下功能: 1, 高性能XPS分析:单色化、微聚焦X射线光源,高灵敏度高分辨率; 2, 微区/选区分析:光斑连续可调,微聚焦最小光斑至10μm; 3, 全自动分析:自动识谱,自动添加元素区间,自动生成报告,一键式操作; 4, 大批量测试:样品台面积3600 mm2,样品厚度最大20 mm,可一次性测试几百个样品; 5, 绝缘体样品准确分析:自动化同轴双束中和源,确保无阴影效应,无荷电效应; 6, 大气敏感样品分析:真空传输模块,集成手套箱,确保不暴露大气; 7, Ar单粒子/团簇复合离子源:同一位点两种模式随时切换,不同硬度材料的深度剖析 8, 平行成像:三重相机光学系统,快速(秒级)成像,动态变化实时观测; 9, UPS:费米能级,功函数,占据态能级等信息分析; 10, ISS:最表面原子层元素信息分析,同位素分析; 11, REELS:氢元素分析,HOMO-LUMO带隙分析等; 12, Raman:原位分子结构分析,材料特性确认等;

产品简介

Thermo Scientific™ Nexsa™ X 射线光电子能谱仪 (XPS) 系统在提供全自动、高通量的多技术分析的同时,保持研究级的高质量分析检测结果。集成ISS、UPS、REELS、拉曼等多种分析技术于一身,用户因此能够进行真正意义上的联合多技术分析,从而为微电子、超膜、纳米技术开发以及许多其他应用进一步取得进展释放潜能。

描述

材料分析和开发
 

Nexsa 能谱仪具有分析灵活性,可最大限度地发挥材料潜能。在使结果保持研究级质量水平的同时,以可选多技术联合的形式提供灵活性,从而实现真正意义上多技术联合的分析检测和高通量。


标准化功能催生强大性能: 

·         绝缘体分析

·         高性能XPS性能

·         深度剖析

·         多技术联合

·         双模式离子源,使深度剖析功能得到扩展

·         用于 ARXPS 测量的倾斜模块

·         用于仪器控制、数据处理和报告生产的 Avantage 软件

·         小束斑分析

可选的升级:可将多种分析技术集成到您的检测分析中。式自动运行

·         ISS:离子散射谱,分析材料最表面1-2原子层元素信息,通过质量分辨可分析一些同位素丰度信息。

·         UPS:紫外光电子能谱用于分析金属/半导体材料的价带能级结构信息以及材料表面功函数信息

·         拉曼:拉曼光谱技术用于提供分子结构层面的指纹信息

·         REELS:反射电子能量损失谱可用于H元素含量的检测以及材料能级结构和带隙信息

 

SnapMap
 

借助 SnapMap 的光学视图,聚焦于样品特征。光学视图可以帮助您快速定位感兴趣区域,同时生成完全聚焦的 XPS 图像,以进一步设置您的实验。

 

1.X 射线照射样品上的一个小区域。

2.收集来自这一小区域的光电子并将其收集于分析仪

3.随着样品台的移动,不断收集元素图谱

4.在整个数据采集过程中监测样品台位置,这些位置的图谱成像用来生成 SnapMap 

应用领域 

·         电池

·         生物医药

·         催化剂

·         陶瓷

·         玻璃涂层

·         石墨烯

·         金属和氧化物

·         纳米材料

·         OLED

·         聚合物

·         半导体

·         太阳能电池

·         薄膜

创新点

上市时间: 2017 12
创新点:
新推出的Nexsa系统首次实现了K-Alpha+全自动、高样品通量设计与ESCALAB Xi+多技术集成功能的高效结合。Nexsa客户可根据实际科研或测试需求,搭配具有不同特色的XPS表面分析平台,如:紫外光电子能谱(UPS)、拉曼光谱(Raman)、离子散射普(ISS)、反射式电子能量损失谱(REELS)等,无需移动或转移样品,可在样品同一位点进行原位分析,实现真正意义上的多技术联合分析。同时,还可搭配Ar气体团簇复合离子源,样品倾斜、偏压模块,以及快速平行成像(SnapMap)功能。 利用新款Nexsa系统,可实现以下功能: 1, 高性能XPS分析:单色化、微聚焦X射线光源,高灵敏度高分辨率; 2, 微区/选区分析:光斑连续可调,微聚焦最小光斑至10μm; 3, 全自动分析:自动识谱,自动添加元素区间,自动生成报告,一键式操作; 4, 大批量测试:样品台面积3600 mm2,样品厚度最大20 mm,可一次性测试几百个样品; 5, 绝缘体样品准确分析:自动化同轴双束中和源,确保无阴影效应,无荷电效应; 6, 大气敏感样品分析:真空传输模块,集成手套箱,确保不暴露大气; 7, Ar单粒子/团簇复合离子源:同一位点两种模式随时切换,不同硬度材料的深度剖析 8, 平行成像:三重相机光学系统,快速(秒级)成像,动态变化实时观测; 9, UPS:费米能级,功函数,占据态能级等信息分析; 10, ISS:最表面原子层元素信息分析,同位素分析; 11, REELS:氢元素分析,HOMO-LUMO带隙分析等; 12, Raman:原位分子结构分析,材料特性确认等;

典型用户

采购单位名称 采购时间 采购台数
中山大学 2017-12-01 1

常用搭配仪器

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