特点之一, 雄厚的技术背景
特点之二, 卓越的分辨率( 与能量色散仪器比较)
特点之三, 卓越的分辨率(与高档昂贵进口的波长色散仪器比较)
特点之四, 操作简便、维护成本低,仪器轻便
特点之五, 无标样分析软件FPM
特点之六, 能分析粉末和水溶液
特点之七, 卓越的技术指标
特点之八,中国成功应用案例
石油中测硫方法和配套仪器
ASTM D 2622-98, ASTM D 7039-04 波长色散型X射线荧光谱法 (WDX) 3ppm< SPECTROSCAN
MAKC-GV
ISO 20847-2004 能量色散型X射线荧光谱法 (EDX) 30ppm< SPECTROSCAN-S
SPECTROSCAN MAKC-GV型波长色散X射线光谱仪测硫主要特点
实际定量检测下线为3ppm,很轻松的满足最严格的波长色散的标准ASTM D 2622-98
例:10ppm 标样,平行测量20次,标准偏差为0.68ppm, 两次平行测量最大相差为1.6ppm,ASTM D 2622-98在10ppm含量时要求5ppm
SPECTROSCAN MAKC-GF2E (G型光谱仪价格实惠,但是仅检测从 20Ca 到 92U 元素.为了满足钱少的客户在G型仪器基础上加了两个能量色散通道,用户可 以任选两中轻元素,仅限于下列元素:Mg, Al, Si, P, S, Cl, K。
一般选用S 和 Cl或者 S和P. 计量特性见下表:
X-射线荧光光谱仪的研制和基本参数法的理论研究工作开始于70-年代末80-年代初
该工作由俄罗斯著名的大学和国家研究所进行。但是主要创始人被认为是克利门特•阿尼索维奇博士。
经过多年的艰苦的探索,克利门特•阿尼索维奇博士发明了高效X-射线光学系统并获得了相应的专利。该系统技术参数在很大的程度上超过当今的X-射线光学系统。因此历史首次使用低功率X-射线管,不用真空的小型X-射线荧光光谱仪在分析性能上能代替大型昂贵的仪器。
10年多来,产品在不断的更新。配套软件不断地更新。
分析性能和技术指标
分析元素 从11Na 至 92U 所有元素
能量分辨率 9 eV (Si K), 45 eV (Fe K)
一个元素测定时间 10 sec
晶体分析器 LiF(200), C, PET, KAP, ML (44E)晶体
分析样品种类 固体、液体、粉末、滤片、薄膜
进样系统 自动进样器,10个40mm样品座(其中两个样品座可旋)
光谱单元外形尺寸和重量 550450450mm, 70kg(光谱仪单元)
供电要求 交电220V 50Hz, 真空泵要求380 V
石化领域的应用
石油和石油产品中的Pb, Zn, Ni, Mn, V, Cu, Fe的定量测定,
对以上元素检出限为 0.0001% ~ 0.0002% (1~ 2ppm); 对Pb为0.0005% (5ppm)
(ASTM D 5059-98)
腐蚀产物中定量测定Zn, Cr, Ni, Fe, Mo, S, CI, Ca, Na金属元素
加氢精制催化剂和加氢催化剂中Mo, Ni, Co, Pt, Re, Fe等金属的测定
机油、油脂和添加剂中的P, S, Ca, Zn, Ba的测定 ((ASTM D 492746)
机油中磨损金属Cu,Fe ,Ag, Ti的测定
铁或非铁合金材料进厂检测
仪器特点
不需要冷却水,不需要惰性气体
不需要氦气流,样品可以处于空气环境中
高效X射线光学系统配合200W的X射线管,
保证高分辨率和谱线高强度,使得本仪器灵敏度和分析速度与
大型X射线荧光 光谱仪相当
多元素材料快速分析
分析结果符合ASTM和ISO的要求
低功率,低辐射X射线管,操作安全
请注意: 市场上的大部分波长色散X-射线荧光光谱仪不能直接分析粉末或水溶液,因为其样品室用真空. 只能分析玻璃熔片或金属片.一定要求购买昂贵的熔融炉.
SPECTROSCAN-G 或GV型仪器样品室不采用真空(GV型仪器只有测角仪处于真空),因此可以直接分析水样,粉末.不需要购买昂贵的熔融炉.
例: GV型 X-射线荧光光谱仪可以用于直接测定电解液体中原子序号大于金属钠的所有元素.检测范围为5-100mg/L, 铜和镍10-100mg/L .
采用配套富集装置配套可以用于分析污水中的金属含量. (如果要测定含量超过10mg/L,不需要富集装置) 检测范围0.005–1.0 mg/L.





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