仪器种类: 场发射
分辨率: 0.2nm
加速电压: 0
放大倍率: 0
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透射电子显微镜是唯一的提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。单倾TEM加热样品杆为TEM铜环样品提供室温到最高500摄氏度高温的原位变温环境的样品杆。
特点与指标:
系统包含加热样品杆与智能控温仪(含控温程序)两部分
电炉加热方式,螺纹环固定,适用于所有3mm铜环样品
铜环与加热器之间为紫铜导热材料,极好的热接触确保样品温度准确
变温范围:室温~500 ℃,温度测量分辨率优于0.1 ℃
系统包含的智能控温仪具有PID控温、模糊逻辑控温、手动控温三种控温方式,自动控温精度优于±0.5℃
不需冷却水,使用方便
样品漂移优于1.5nm/分钟(温度稳定后)
分辨率优于0.21nm
注:以上指标可能根据系统配置不同而略有变化
Spectra S/TEM 扫描透射电子显微镜
日本电子 JEOL 自动进样场发射透射电镜JEM-F200
日本电子JEOL 冷场发射12极子球差校正透射电镜 JEM-ARM300F2
国仪量子 场发射透射电子显微镜 TH-F120
赛默飞 Talos F200X S/TEM 透射电子显微镜
德国Elmitec光发射电子显微镜含能量分析仪PEEM
南通宏腾微电子技术有限公司
核磁共振光谱仪 400 MHz NMR系列
先驰精密仪器(东莞)有限公司
日本电子JEOL-120KV 透射电子显微镜JEM-120i
日本电子株式会社(JEOL)
阴极发射体
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