ROHS有害元素检测 材料分析和镀层厚度（膜厚）测量.
根据法规的规定，迅速、高速灵敏地检测土壤中的有害物质。采用无需液氮制冷
的检出器，可搬的设计，只要是有电源的供给，均可方便使用:设备操作无
需特殊培训。 本产品采用最高的安全设计，无任何X线的泄露.
以上仅为典型产品的描述,更多产品及详细信息请进入www.hc-science.com .
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规格
型号 850型
X射线管 50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配 75W(4-50KV 0 -1.5mA)可选 ：
探测器： 硅锂半导体探测器:
滤光器 ：一次滤光 :
样品观察 CCD高精度彩色摄像头
准直器： Ф8mm、Ф3mm、Ф2mm、Ф1mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm、Ф0.1mm多种准直器可供选择
对焦系统 激光对焦
测量方向 从上向下
样品台 ：多种样品台可供选择(XYZ可移动样品台，程控样品台，固定的样品台)
可测元素 K到U
测试时间 ：10-100s
元素含量 60-300s
元素含量分析指标 分析范围：100PPM-99.99%
准确度 5%
精确度 0.1%
检出限 1PPM
镀层厚度的检测指标 准确度：第一层5%，第二层10% 精确度：0.1%
检出限 0.01μm
测试软件 基本参数法
定性功能 自动标示存在元素
报告结果 自动生成
定量功能 出厂前完成标定曲线，客户直接测试，无需标样
数据处理 MS-EXCEL
产品特点：
美国优特800型多功能聚于一体X荧光光谱仪
探测器采用先进的电制冷方式，无需氮制冷，增加安全性;
可以同时检测RoHS有害元素和镀层厚度，一机多用
多种准直器和滤光机制可供选择
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