TESCAN RISE电镜拉曼一体化显微镜
TESCAN RISE电镜拉曼一体化显微镜
TESCAN RISE电镜拉曼一体化显微镜
TESCAN RISE电镜拉曼一体化显微镜
TESCAN RISE电镜拉曼一体化显微镜

¥500万 - 700万

9.3

泰思肯

暂无样本

RISE Microscope

欧洲

  • 白金
  • 第19年
  • 生产商
  • 营业执照已审核
400-831-3279
核心参数

电子枪种类: 冷场发射

产地类别: 进口

二次电子图象分辨率: 1.0nm@15kV

放大倍数: TESCAN电镜拉曼一体化系统RISE

加速电压: 0.2-30kV

背散射电子图像分辨率: 1.0nm@15kV

RISE电镜-拉曼一体化系统

SEM-Raman (RISE Microscopy)

 

RISE电镜-拉曼一体化系统是一款新颖的显微镜技术,在一个集成的显微镜系统中结合了共焦拉曼成像和扫描电子显微镜技术,这种独特的组合为显微镜用户对样品进行综合表征,提供了明显的优势。

扫描电子显微镜是一个很好的表征纳米范围内样品表面结构的可视化技术,而共焦拉曼成像是表征样品化学和分子组成的成熟光谱方法。RISE电镜-拉曼一体化系统还可以同时得到样品的2D、3D图像,以及样品中分子化合物组成的可视化分布结果。

 

引领变革 全方位拓展分析

RISE Microscopy是一款创新性的产品,是世界上第一台真正实用化的扫描电镜-拉曼光谱仪联用系统。通过实现原位、快速、方便和高性能的拉曼分析,可以极大的拓展分析应用,在有机结构解析、碳结构解析、无机相鉴定、同分异构分析、结晶度分析等领域作出重大突破。

目前,RISE电镜-拉曼一体化系统在地质、矿物晶体、高分子聚合物、医学、生命医药、宝玉石鉴定等领域均有了非常丰富的应用。

 

无论您是怎样的客户 RISE显微镜都适合您

作为扫描电镜用户,您将会受益于拉曼光谱分析与扫描电镜成像技术结合的优势。RISE显微镜采用平行轴设计,使得电镜的各种探测器和附件(如BSE, CL, EDS等)在联用系统中都可以配置使用。

作为拉曼光谱用户,您将会体验到扫描电镜与拉曼光谱联用分析的拓展性和易用性。传统的拉曼光谱仪由于没有光学物镜,分辨率受限于激光束斑大小,难以达到理论上的衍射极限,处于几个μm的水平。而RISE显微镜不但拥有高数值孔径的光学物镜聚焦激光束斑,还能够通过束斑的扫描运动来进行成像,最终的拉曼图像分辨率突破了传统的衍射极限,达到了360nm(532nm激光)。

 

定制化系统功能:

平行轴式设计,保证样品台分别在电子束和激光束下的精准定位

基于TESCAN超大样品仓定制,拥有丰富的接口和极强的承高承重能力

同时具备电镜和光镜,配合X-Position功能,实现和任意光学照片及Mapping数据的联用

可集成电镜的各种探测器和分析附件,进一步拓展分析应用

点、线、面的拉曼成像分析,叠加图像能够提供极其丰富的数据信息

q       突破传统的衍射极限,拉曼图像分辨率可达360nm (532nm激光)

共聚焦功能实现光学物镜的三维逐层扫描,进行三维拉曼光谱成像

联用系统的扫描电镜部分和拉曼光谱仪部分可完全独立使用

联用系统可以集成在TESCAN任意扫描电子显微镜产品

 

 

无论哪个领域  RISE显微镜都会给您提供独特的方案

RISE电镜-拉曼一体化系统特别适合于有机结构解析、碳结构解析、无机相鉴定、同分异构分析、结晶度分析等领域的分析应用。目前,RISE显微镜在地质、矿物晶体、高分子聚合物、医学、生命医药、宝玉石鉴定等领域均有了非常丰富的应用。

  • 碳材料

  • 有机材料

  • 二维材料

  • 无机材料

  • 共聚焦分析


更多应用案例,请关注“TESCAN公司”中国官方微信平台查看。 


  • 应力测试也是无机材料分析的重要方面,目前微区应力分布测试主要手段是EBSD,通过测试取向差的分布来间接的反应。但是EBSD分析手段又有一定的局限性,拉曼光谱也可以间接的反应应力的情况。如果存在压缩应力,特征峰会往高波数方向移动;反之,若存在拉伸应力,特征峰会向低波数方向移动。且应力越大,特征峰的位移越大。

    地矿 2017-09-06

  • 取向是晶体材料的重要基本参数,拉曼光谱虽然不能像EBSD一样直接进行晶面指数的分析,但是对于很多无机材料来说,取向不同其拉曼特征峰也会产生积分强度不同或者峰位有所偏移的情况。

    地矿 2017-09-06

  • 在传统的电镜中,由于EDS的检出限为0.1%,所以对于一些微量元素的分析来说较为困难。尤其是要做微量元素或者差异很小的面分布来说,EDS往往不能满足我们的需要。虽然拉曼光谱并不能直接得到元素含量和分布分析,但是有时候微量元素的变化足以引起对应的特征拉曼峰的变化。此时便可利用拉曼光谱去进行微量元素的分析。

    地矿 2017-09-06

  • 目前能够很好的表征结晶情况的主要是XRD,并且是基于宏观分析,能在微区尺度对结晶度进行表征的手段则很少。而无机晶体材料的结晶度却会对特征拉曼峰产生较大的影响。因此,可以通过特征拉曼峰的宽度来对结晶度进行评判。由此可见,原位一体化的RISE对微区领域的结晶度分析提供了新的途径。

    半导体 2017-09-06

  • 应力测试也是无机材料分析的重要方面,目前微区应力分布测试主要手段是EBSD,通过测试取向差的分布来间接的反应。但是EBSD分析手段又有一定的局限性,拉曼光谱也可以间接的反应应力的情况。如果存在压缩应力,特征峰会往高波数方向移动;反之,若存在拉伸应力,特征峰会向低波数方向移动。且应力越大,特征峰的位移越大。

    地矿 2017-09-06

  • 取向是晶体材料的重要基本参数,拉曼光谱虽然不能像EBSD一样直接进行晶面指数的分析,但是对于很多无机材料来说,取向不同其拉曼特征峰也会产生积分强度不同或者峰位有所偏移的情况。

    地矿 2017-09-06

  • 在传统的电镜中,由于EDS的检出限为0.1%,所以对于一些微量元素的分析来说较为困难。尤其是要做微量元素或者差异很小的面分布来说,EDS往往不能满足我们的需要。虽然拉曼光谱并不能直接得到元素含量和分布分析,但是有时候微量元素的变化足以引起对应的特征拉曼峰的变化。此时便可利用拉曼光谱去进行微量元素的分析。

    地矿 2017-09-06

  • 对于无机材料来说,经常会碰到同分异构的情况。但是仅仅通过扫描电镜和能谱,我们只能得到形貌和成分数据,而没有办法对样品进行准确的结构分析。而结构作为物质的基本特性,极大的影响着热、力、光、电、磁等性能,因此也是微区表征不容忽视的方面。

    地矿 2017-09-06

  • 目前能够很好的表征结晶情况的主要是XRD,并且是基于宏观分析,能在微区尺度对结晶度进行表征的手段则很少。而无机晶体材料的结晶度却会对特征拉曼峰产生较大的影响。因此,可以通过特征拉曼峰的宽度来对结晶度进行评判。由此可见,原位一体化的RISE对微区领域的结晶度分析提供了新的途径。

    半导体 2017-09-06

  • 虽然绝大部分金属试样并没有特征拉曼谱峰,但这并不意味着拉曼对金属的分析就毫无用处。相反,金属中的一些夹杂、污染物或者金属氧化物往往具备特征的拉曼信号。所以拉曼光谱在这个领域的分析也会起着特殊的作用。

    钢铁/金属 2017-09-06

典型用户
用户单位 采购时间
上海交通大学 2017-11-06
中石油勘探开发研究院 2017-08-06
中国地质大学(武汉) 2017-07-06
国家核安保中心 2017-06-06
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泰思肯扫描电镜RISE Microscope的工作原理介绍

扫描电镜RISE Microscope的使用方法?

泰思肯RISE Microscope多少钱一台?

扫描电镜RISE Microscope可以检测什么?

扫描电镜RISE Microscope使用的注意事项?

泰思肯RISE Microscope的说明书有吗?

泰思肯扫描电镜RISE Microscope的操作规程有吗?

泰思肯扫描电镜RISE Microscope报价含票含运吗?

泰思肯RISE Microscope有现货吗?

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