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仪器介绍
瑞士SwissProbe公司最新推出的高分辨率磁力显微镜(Hr-MFM)是在材料表面纳米尺度检测技术上的巨大飞跃:Hr-MFM的超细探针使得其分辨精度比传统的MFM提高近10倍,用Hr-MFM获得的磁分辨精度(10纳米)甚至可以和用极化分辨扫描电子显微镜(SEMPA)所得到的数据相媲美;该产品刚一出现立即受到了全球科学家的广泛关注:2003年产品获评瑞士技术创新奖;Hr-MFM产品样机被全球知名硬盘制造商美国希捷公司购得;瑞士创新奖专题文章评论该SwissProbe 公司Hr-MFM “对于更大容量的硬盘存储器的研究将带来一次强烈冲击”。实验室的科学家可以借助其进行材料的表面分析、磁性材料和薄膜技术等相关的研究,诸如磁性量子点以及用于磁性随机存储器和铁电随机存储器应用的层状纳米机构等方面。
技术参数
10纳米的磁畴探测精度
0.2纳米的水平分辨率
0.03纳米的垂直分辨率
0.2纳米的水平分辨率
0.03纳米的垂直分辨率
主要特点
1、十分钟内快速达到高真空环境
2.精确分离形貌和磁畴信号
3、完美的防震和声隔离系统
4、120毫米的超大样品平台
5、高度精密的探针和悬臂
6、样品安装迅速、悬臂自动对准调整
7、全自动多种SPM工作模式
8.12μm x 12μm 和40μm x40 μm扫描量程
9. Fully linearized metrology scanners
2.精确分离形貌和磁畴信号
3、完美的防震和声隔离系统
4、120毫米的超大样品平台
5、高度精密的探针和悬臂
6、样品安装迅速、悬臂自动对准调整
7、全自动多种SPM工作模式
8.12μm x 12μm 和40μm x40 μm扫描量程
9. Fully linearized metrology scanners
分析方法
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