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创新点
Activa是采用最新一代背照射百万像素固态检测器与波长连续覆盖120—800nm的一级光谱的ICP-OES仪器。完全可以选择高灵敏度和无干扰的谱线进行元素的分析,尤其可以以高灵敏度的方式测定微量卤素元素。
Activa采用一级光谱的无色差分光系统,使得分辨率在全谱范围内恒定不变,这种设计免除了中阶梯光栅CCD(CID)系统的缺点和局限(分辨率随波长的增加而变差),她的单一的分光成像元件比二维色散光学系统产生的杂散光低得多,并且绝无普通CCD的“溢出”现象。
Activa的CCD采用真空冷却的方式,既保证了极低的暗电流和读出噪声,又避免了大流量高纯气体的消耗,比任何的ICP光谱仪器起动更快速!
Activa 的象素分辨率为0.0035nm,因而适用于富谱线基体——如稀土、钨、钼、锆等合金的分析,全谱120-800nm测量仅需30秒!
Activa采用一级光谱的无色差分光系统,使得分辨率在全谱范围内恒定不变,这种设计免除了中阶梯光栅CCD(CID)系统的缺点和局限(分辨率随波长的增加而变差),她的单一的分光成像元件比二维色散光学系统产生的杂散光低得多,并且绝无普通CCD的“溢出”现象。
Activa的CCD采用真空冷却的方式,既保证了极低的暗电流和读出噪声,又避免了大流量高纯气体的消耗,比任何的ICP光谱仪器起动更快速!
Activa 的象素分辨率为0.0035nm,因而适用于富谱线基体——如稀土、钨、钼、锆等合金的分析,全谱120-800nm测量仅需30秒!
仪器介绍 [下载样本]
Activa是采用最新一代背照射百万像素固态检测器与波长连续覆盖120—800nm的一级光谱的ICP-OES仪器。完全可以选择高灵敏度和无干扰的谱线进行元素的分析,尤其可以以高灵敏度的方式测定微量卤素元素。
Activa采用一级光谱的无色差分光系统,使得分辨率在全谱范围内恒定不变,这种设计免除了中阶梯光栅CCD(CID)系统的缺点和局限(分辨率随波长的增加而变差),她的单一的分光成像元件比二维色散光学系统产生的杂散光低得多,并且绝无普通CCD的“溢出”现象。
Activa的CCD采用真空冷却的方式,既保证了极低的暗电流和读出噪声,又避免了大流量高纯气体的消耗,比任何的ICP光谱仪器起动更快速!
Activa 的象素分辨率为0.0035nm,因而适用于富谱线基体——如稀土、钨、钼、锆等合金的分析,全谱120-800nm测量仅需30秒!
Activa采用一级光谱的无色差分光系统,使得分辨率在全谱范围内恒定不变,这种设计免除了中阶梯光栅CCD(CID)系统的缺点和局限(分辨率随波长的增加而变差),她的单一的分光成像元件比二维色散光学系统产生的杂散光低得多,并且绝无普通CCD的“溢出”现象。
Activa的CCD采用真空冷却的方式,既保证了极低的暗电流和读出噪声,又避免了大流量高纯气体的消耗,比任何的ICP光谱仪器起动更快速!
Activa 的象素分辨率为0.0035nm,因而适用于富谱线基体——如稀土、钨、钼、锆等合金的分析,全谱120-800nm测量仅需30秒!
技术参数
波长连续覆盖120—800nm
象素分辨率为0.0035nm,
全谱120-800nm测量仅需30秒!
象素分辨率为0.0035nm,
全谱120-800nm测量仅需30秒!
主要特点
Activa是采用最新一代背照射百万像素固态检测器与波长连续覆盖120—800nm的一级光谱的ICP-OES仪器。完全可以选择高灵敏度和无干扰的谱线进行元素的分析,尤其可以以高灵敏度的方式测定微量卤素元素。
Activa采用一级光谱的无色差分光系统,使得分辨率在全谱范围内恒定不变,这种设计免除了中阶梯光栅CCD(CID)系统的缺点和局限(分辨率随波长的增加而变差),她的单一的分光成像元件比二维色散光学系统产生的杂散光低得多,并且绝无普通CCD的“溢出”现象。
Activa的CCD采用真空冷却的方式,既保证了极低的暗电流和读出噪声,又避免了大流量高纯气体的消耗,比任何的ICP光谱仪器起动更快速!
Activa 的象素分辨率为0.0035nm,因而适用于富谱线基体——如稀土、钨、钼、锆等合金的分析,全谱120-800nm测量仅需30秒!
Activa采用一级光谱的无色差分光系统,使得分辨率在全谱范围内恒定不变,这种设计免除了中阶梯光栅CCD(CID)系统的缺点和局限(分辨率随波长的增加而变差),她的单一的分光成像元件比二维色散光学系统产生的杂散光低得多,并且绝无普通CCD的“溢出”现象。
Activa的CCD采用真空冷却的方式,既保证了极低的暗电流和读出噪声,又避免了大流量高纯气体的消耗,比任何的ICP光谱仪器起动更快速!
Activa 的象素分辨率为0.0035nm,因而适用于富谱线基体——如稀土、钨、钼、锆等合金的分析,全谱120-800nm测量仅需30秒!
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