赛默飞世尔科技元素分析(Elemental)

专利的快速平行X光电子实时成像，可进行微区元素和化学态空间分布分析
X光电子成像保证空间分辨率优于3μm，最好达到1μm
标准主机包含大面积XPS分析,、小面积XPS分析和ISS分析, XPS Imaging and XPS Mapping 等项功能
多种其它表面分析功能选件，如 AES/SAM、UPS和灵活多样的样品制备装置
可保证最佳能量分辨率优于 0.45eV,。足以进行精细化学结构和化学价态分析
极好的谱分析灵敏度——可进行快速数据采集和分析, 取谱只需几秒钟
同轴中和电子枪—使得绝缘样品分析简单方便和有效
高性能深度剖析－可进行表面与界面、三维成分深度分布分析

THERMO VG先进的专业表面分析软件AVANTAGE，WINDOWS NT操作平台。工业化标准，分析功能强大，操作使用直观方便，与其它商业应用软件兼容性好。

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