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Tecnai G2 F30 是一个真正多功能、多用户环境的300kV工具。它以其将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、Lorentz透镜、STEM、EDX/EELS频谱成像等)方便灵活地有机组合, 形成强大的分析功能, 而在同类型仪器中独占鳌头。任务导向型用户界面和自动采集数据功能, 使用户从必须首先成为电镜专家才能获得理想结果的压力中解放出来, 使他们专注于自己的研究工作。Tecnai G2的“完全一体化”概念允许在不同的操作模式和数据采集技术之间快速切换, 切换过程中系统自动调回所有相关的操作设置。
Tecnai G2 F30具有各种分析要求的、不同应用水平的操作者都要在上面工作。同时, 这一TEM/STEM系统已经为明天做好准备, 它可以用新的功能进行升级, 以保证方便快速地进行更先进的数据采集。
除了具有200kV的各种优点外, Tecnai G2 F30提供了300kV的加速电压, 可分析更厚、更具挑战性的样品。Tecnai G2 F30使用户可以在原子尺度的分辨率进行高质量、高稳定性的TEM、STEM和纳米分析。

1.信息分辨率极限
　　U-TWIN 0.10nm
　　S-TWIN 0.14nm
2.点分辨率
　　U-TWIN 0.17nm
　　S-TWIN 0.20nm
3.高分辨STEM分辨率
　　U-TWIN 0.14nm
　　S-TWIN 0.19nm
4.样品最大倾角 S-TWIN +/- 40^o

1.高性能的透射电子成像、扫描透射成像和纳米、原子尺度分析
2.所有的先进分析技术集成于一体: TEM、HR-TEM、STEM、HR-STEM、电子衍射、EFTEM、EDS和EELS频谱图、全息技术和Lorentz透镜技术
3.强样品穿透能力
4.最佳性能的能量过滤透射电镜和电子能量损失谱分析
5.超稳定的聚焦、高压、能量色散、束斑、对中和样品台
6.多用户环境下的方便和安全操作
7.适用于大量样品的快捷分析
8.将来技术, 今日应用
9.基于Windows XP的用户界面

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