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仪器介绍
SIINT的SPM为系列化产品,有三种控制系统和多种主机可供选择,客户可根据研究需要进行选择
SIINT SPM控制系统:
SPI 3800N:最广泛采用的控制系统,操作简易而工作稳定
SPI 4000:具备Active Q、长方形扫描、Scan Limiter等功能的控制系统
NanoNavi:最新推出的控制系统,是当今世界最新SPM技术的结晶,SIS模式,测量更准确,操作更简单,分析更方便
SIINT SPM主机:
1.SPA-400 多功能扫描探针显微镜
多功能型,用于测量各种物质表面的高分辨三维形貌;表征如无机材料、金属材料、高分子材料、复合材料和生物材料的各种微观物性,包括磁力、摩擦力、粘弹性、表面电位势、静电力、压电响应、微区电流、电流隧道谱、电容等等;进行纳米尺度的加工及力学性质的测量;能在大气、液体及电化学条件下测量
2.SPA-300HV 多功能可控环境扫描探针显微镜
环境控制型,能在高真空、高低温、气氛、液体、电化学、磁场电场等环境下进行多功能SPM测量
3. E-SWEEP 新型多功能可控环境扫描探针显微镜
最新型的环境控制型,具备连续变温、极低漂移、自动测量等功能,是迄今为止最好的可控环境SPM
4.L-Trace 自动大尺寸样品扫描探针显微镜
对大尺寸样品进行AFM分析,适用于测量各种光盘(DVD,CD,HD等)、磁盘、半导体、微电子及其他大尺寸的样品。具备自动化测量,SIS模式、闭环扫描器等功能
5.SPA-460/465 半导体工业用检测型原子力显微镜
6.原子力形貌仪/台阶仪 Nanopics
Nanopics是一款小型的原子力形貌仪/台阶仪,独有的技术如自感应悬臂、内置式防震机构和专门的控制系统,使得这款仪器既能做得尽可能小型化同时又容易操作,不仅可以分析三维形貌,还可测量台阶高度
仕嘉科技同时代理:
超高真空STM(UHV-STM), 室温/低温近场光学显微镜(SNOM)
各种原子力显微镜用探针
欢迎垂询
SIINT SPM控制系统:
SPI 3800N:最广泛采用的控制系统,操作简易而工作稳定
SPI 4000:具备Active Q、长方形扫描、Scan Limiter等功能的控制系统
NanoNavi:最新推出的控制系统,是当今世界最新SPM技术的结晶,SIS模式,测量更准确,操作更简单,分析更方便
SIINT SPM主机:
1.SPA-400 多功能扫描探针显微镜
多功能型,用于测量各种物质表面的高分辨三维形貌;表征如无机材料、金属材料、高分子材料、复合材料和生物材料的各种微观物性,包括磁力、摩擦力、粘弹性、表面电位势、静电力、压电响应、微区电流、电流隧道谱、电容等等;进行纳米尺度的加工及力学性质的测量;能在大气、液体及电化学条件下测量
2.SPA-300HV 多功能可控环境扫描探针显微镜
环境控制型,能在高真空、高低温、气氛、液体、电化学、磁场电场等环境下进行多功能SPM测量
3. E-SWEEP 新型多功能可控环境扫描探针显微镜
最新型的环境控制型,具备连续变温、极低漂移、自动测量等功能,是迄今为止最好的可控环境SPM
4.L-Trace 自动大尺寸样品扫描探针显微镜
对大尺寸样品进行AFM分析,适用于测量各种光盘(DVD,CD,HD等)、磁盘、半导体、微电子及其他大尺寸的样品。具备自动化测量,SIS模式、闭环扫描器等功能
5.SPA-460/465 半导体工业用检测型原子力显微镜
6.原子力形貌仪/台阶仪 Nanopics
Nanopics是一款小型的原子力形貌仪/台阶仪,独有的技术如自感应悬臂、内置式防震机构和专门的控制系统,使得这款仪器既能做得尽可能小型化同时又容易操作,不仅可以分析三维形貌,还可测量台阶高度
仕嘉科技同时代理:
超高真空STM(UHV-STM), 室温/低温近场光学显微镜(SNOM)
各种原子力显微镜用探针
欢迎垂询
技术参数
1.高温控制可实现样品最高800℃加热,并可在低于300℃温度下进行高分辨测量
2.低温控制可实现样品最低-120℃制冷
3.温度控制精度: ±1ºC
4.最高真空度可达~10-7 Torr
5.气氛控制可快速实现各种气体的置换
6.可在超高温、超低温、高真空和液体等环境下高质量成像
7.XY方向分辨能力为0.2nm;Z方向为0.01nm
8.最大扫描范围: 150um×150um
9.图象分辨率可达1024×1024象素以上
2.低温控制可实现样品最低-120℃制冷
3.温度控制精度: ±1ºC
4.最高真空度可达~10-7 Torr
5.气氛控制可快速实现各种气体的置换
6.可在超高温、超低温、高真空和液体等环境下高质量成像
7.XY方向分辨能力为0.2nm;Z方向为0.01nm
8.最大扫描范围: 150um×150um
9.图象分辨率可达1024×1024象素以上
主要特点
可实现环境控制,能在高真空、高低温、气氛、液体、电化学、磁场、电场等环境下进行多功能SPM测量,具有多种功能和成像模式,如:
1.接触(Contact)/动态力成像模式(DFM/Tapping)
2.摩擦力成像(FFM)/切向调制摩擦力成像模式(LM-FFM)
3.独特的磁力成像模式(MFM)/静电力成像模式(EFM)
4.相位成像模式(Phase Mode)/微区粘弹性测试模式(VE-AFM/VE-DFM)
5.电化学测试(EC-SPM)/电流隧道普成像模式(CITS)
等等
1.接触(Contact)/动态力成像模式(DFM/Tapping)
2.摩擦力成像(FFM)/切向调制摩擦力成像模式(LM-FFM)
3.独特的磁力成像模式(MFM)/静电力成像模式(EFM)
4.相位成像模式(Phase Mode)/微区粘弹性测试模式(VE-AFM/VE-DFM)
5.电化学测试(EC-SPM)/电流隧道普成像模式(CITS)
等等
分析方法
1.Development of Magnetic force Microscope with World Finest Resolution
2.原子力显微镜结合铁电分析仪研究Nd掺杂Bi4Ti3O12 薄膜的机电性质
2.原子力显微镜结合铁电分析仪研究Nd掺杂Bi4Ti3O12 薄膜的机电性质
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应用领域
此仪器尚未选择应用领域
所属专场
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Re多功能可控环境扫描探针显微(SPM/AFM/STM)
评价人:近物实验室
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我将于3月5日前申报仪器购置计划,能不能快些发给我此仪器的最低价格?
评价人:近物实验室
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我将于3月5日前申报仪器购置计划,能不能快些发给我此仪器的最低价格?
Re多功能可控环境扫描探针显微(SPM/AFM/STM)
评价人:shawn
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请与我们联系。 电话:010-88414504 Email:l_xh2002@163.com
评价人:shawn
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