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仪器介绍 [下载样本]
多样自动进样系统 ,计算机、喷墨打印机 ,真空泵(可选) ,压片机(可选) ,硅针半导体探测器 ,放大电路 ,高低压电源 ,X光管
技术参数
技术指标:
分 析 范 围: 1PPM-99.99%
同 时 分 析: 几十种元素同时分析
测镀层厚度精确至0.01微米
测 量 对 象: 固体、粉未、液体
测 量 时 间: 60-300 秒
测 量 精 度 : 0.05%
分 析 元 素: Na-U
工 作 温 度: 15-26℃
相 对 湿 度: ≤70%
重 量 : 100KG
功 耗: 200瓦
主要特点
分析方法
此仪器尚未上传分析方法
相关资料
1.X荧光光谱仪
应用领域
此仪器尚未选择应用领域
所属专场
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