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表界面物性测试下的所有分类
表面张力仪(界面张力仪)接触角测定仪比表面仪、比表面积、比表面及孔结构分析仪化学吸附仪、物理吸附仪、物理/化学吸附仪蒸汽吸附仪/蒸气吸附仪LB膜分析仪
压汞仪纳米压痕仪、划痕仪泡沫分析仪开尔文探针系统可焊性测试仪表面阻抗
孔径/隙度分析仪其它固体(粉末)表面分析仪
开尔文探针扫描系统
仪器简介:开尔文探针(KelvinProbe)是一种非接触无损震荡电容装置,用于测量导体材料的功函数(WorkFunction)或半导体、绝缘表面的表面势(SurfacePotential)。材料表面
科睿技术发展有限公司[参展商]
http://www.instrument.com.cn/netshow/C16118.htm

手动探针台
美国MicroManipulator探针台WWW.MICROMANIPULATOR.COM Micromanipulator成立于1956年,是半导体探针台以及相关组件的领导供应厂商。拥有超过50年
香港电子器材有限公司[参展商]
http://www.instrument.com.cn/netshow/C139589.htm

手动探针台
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香港电子器材有限公司[参展商]
http://www.instrument.com.cn/netshow/C139597.htm

手动探针台
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香港电子器材有限公司[参展商]
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