所有提问
色谱 | 光谱 | 质谱 | 波谱 | 显微镜 | 物性测试 | 样品前处理 | 常用设备 | 食品检测 | 药物分析 | 环境监测 | 实验室建设/管理 | 认证认可 | 基础知识    更多>>
未解决的问题:146813
所有仪器问答:170777
 您现在的位置:首页 > 仪器问答 > 文献检索/互助 > 文献求助-应助文献求助-应助论坛
共有 5 人回复了该问答求几篇中文文献
 回复v3234349发表于:2017/5/20 21:02:58悬赏金额:10积分 状态:未解决
【序号】:1
【作者】:韩立 陈皓明
【题名】:扫描探针显微术在GaAs等半导体研究中的应用
【期刊】:《功能材料》 |
【年、卷、期、起止页码】:1999年 第2期
【全文链接】:http://www.cqvip.com/QK/92397A/199902/3481251.html
【序号】:2
【作者】:罗江财
【题名】:半导体衬底片的应力损伤及其行为
【期刊】:《半导体光电》 |
【年、卷、期、起止页码】:1989年 第3期
【全文链接】:http://www.cqvip.com/QK/91994X/198903/1661.html

【序号】:3
【作者】:陈斌 王兴妍 黄辉 黄永清 任晓敏
【题名】:Ⅲ-Ⅴ族半导体晶片键合热应力分析
【期刊】:《半导体光电》 |
【年、卷、期、起止页码】:2005年 第5期
【全文链接】:


http://www.cqvip.com/QK/91994X/200505/20281890.html

【序号】:4
【作者】:邓志杰
【题名】:半导体缺陷工程
【期刊】:《稀有金属》 |
【年、卷、期、起止页码】:1994年 第2期
【全文链接】:http://www.cqvip.com/QK/93288X/199402/1515588.html


【序号】:5
【作者】:陈平
【题名】:Ⅲ—V族化合物半导体表面损伤与缺陷的表征
【期刊】:《固体电子学研究与进展》 |
【年、卷、期、起止页码】:1989年 第4期
【全文链接】:http://www.cqvip.com/QK/90858X/198904/209126.html
高级回复快速回复【花三五分钟,帮别人解决一个问题,快乐自己一天!】