【序号】：1
【作者】：韩立 陈皓明
【题名】：扫描探针显微术在GaAs等半导体研究中的应用
【期刊】：《功能材料》 |
【年、卷、期、起止页码】：1999年 第2期
【全文链接】：http://www.cqvip.com/QK/92397A/199902/3481251.html
【序号】：2
【作者】：罗江财
【题名】：半导体衬底片的应力损伤及其行为
【期刊】：《半导体光电》 |
【年、卷、期、起止页码】：1989年 第3期
【全文链接】：http://www.cqvip.com/QK/91994X/198903/1661.html
【序号】：3
【作者】：陈斌 王兴妍 黄辉 黄永清 任晓敏
【题名】：Ⅲ-Ⅴ族半导体晶片键合热应力分析
【期刊】：《半导体光电》 |
【年、卷、期、起止页码】：2005年 第5期
【全文链接】：http://www.cqvip.com/QK/91994X/200505/20281890.html
【序号】：4
【作者】：邓志杰
【题名】：半导体缺陷工程
【期刊】：《稀有金属》 |
【年、卷、期、起止页码】：1994年 第2期
【全文链接】：http://www.cqvip.com/QK/93288X/199402/1515588.html
【序号】：5
【作者】：陈平
【题名】：Ⅲ—V族化合物半导体表面损伤与缺陷的表征
【期刊】：《固体电子学研究与进展》 |
【年、卷、期、起止页码】：1989年 第4期
【全文链接】：http://www.cqvip.com/QK/90858X/198904/209126.html
您现在的位置：
